隔离器环境监测：颗粒、微生物与 VHP 问题

必须监测的项目

无菌工艺隔离器内，产品、容器和密封件暴露的区域为 A 级。EU GMP Annex 1（2022）规定的要求与其他 A 级区域相同，但需通过屏障实施：

类型	方法	时间
总颗粒	用关键区附近的远程探头连续计数 ≥ 0.5 µm 和 ≥ 5 µm 颗粒	整个关键工艺期间，包括设备组装
空气微生物	沉降菌平皿（每皿暴露不超过 4 小时）及主动空气采样	整个关键工艺期间
表面	关键表面的接触碟或拭子取样	操作结束时
手套	手套印（指尖接触琼脂）	操作结束时及关键干预后

A 级微生物限值为无生长，任何生长均需调查。Annex 1 规定 A 级动态总颗粒限值为每 m³ 中 ≥ 0.5 µm 颗粒 3,520 个、≥ 5 µm 颗粒 29 个。依据历史数据设置低于限值的警戒水平，可及早发现趋势。

取样位置

取样位置由书面风险评估确定，应能代表接触暴露产品的空气和表面，同时不干扰保护产品的气流。相关 烟雾试验 是最佳工具：它能显示空气接触敞口容器前来自何处，以及探头或平皿是否处在其尾流中。

• 颗粒探头 靠近灌装点和胶塞轨道，朝向气流。通向计数器的采样管应短且少弯，因为颗粒，尤其是 ≥ 5 µm 颗粒，会在长管内损失。
• 沉降菌平皿 在工艺允许范围内尽量靠近暴露产品，且位置不应产生涡流。
• 主动空气采样器 采样头位于内部、泵位于外部，以免采样时扰动隔离器压力平衡。
• 表面 与无菌物品接触或干预时被触碰的表面：规格件、导轨、胶塞料斗边缘。

VHP 带来的问题

过氧化氢与培养基并不相容。有三种情况需要注意。

1. 送入培养基时避免损害其促生长能力

平皿和采样头通常在去污循环后，经已去污的路径送入，如 VHP 传递窗、转运接口或隔离器自带气闸。外包装必须去污，但蒸汽不得接触琼脂。此类平皿采用多层包装，逐层移除，并应确认包装对过氧化氢的阻隔能力。循环期间留在隔离器内的平皿不能用于监测。

2. 暴露平皿上的过氧化氢残留

通气后，空气中仍有低水平过氧化氢，材料也继续释放过氧化氢。暴露数小时的沉降菌平皿会吸收它，浓度足够高时会抑制落在平皿上的微生物生长，产生假的 “无生长” 结果。防范方法是在真实条件下进行促生长试验：生产开始时，将平皿在隔离器内暴露完整规定时间，再接种少量试验微生物并确认回收情况。部分培养基因此添加过氧化氢酶或其他中和剂。

3. 采样设备兼容性

VHP 处理期间留在内部的颗粒计数器探头、采样头和管路，应耐受反复暴露，且不应吸持过氧化氢后再释放。电子部件应尽可能位于隔离器外，仅探头置于内部。

趋势与超限

A 级结果几乎总为零，因此隔离器监测的价值在于趋势。按位置、班次、干预操作和生产阶段天数记录结果，并结合手套完整性结果和颗粒数据评审。A 级任何微生物检出均应调查并鉴定菌种，调查应考虑去污循环、传递路径、手套完整性及已执行的干预。

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